兩探針電阻率測(cè)試儀  KDY-2  庫(kù)號(hào)：M406120   

如果需要現(xiàn)場(chǎng)調(diào)試，另外再加xxxx元（詳詢），
款到5個(gè)工作日內(nèi)發(fā)貨
兩探針電阻率測(cè)試儀  KDY-2  庫(kù)號(hào)：M406120   
項(xiàng)目 技術(shù)參數(shù)
電阻率測(cè)試范圍 0.001～6000Ω·cm
用途 可測(cè)硅芯尺寸
測(cè)量方式 縱向測(cè)量，電流可正反向測(cè)量
整機(jī)測(cè)量精度 B.41-1000Ω·cm范圍內(nèi)≤3%
電器測(cè)量精度 1-1000Ω范圍內(nèi)≤0.3%
電壓表
A.量程0~199.99 mV；
B.基本誤差±(0.004%讀數(shù)+0.01%滿度)；
C.輸入阻抗﹥1000MΩ；
D. 4 1/2位數(shù)字顯示，0～19999。
恒流源
A.電流輸出：直流電流0.003～100 mA連續(xù)可調(diào)，由交流電源供給；
B.量程：0.01 mA，0.1 mA，1 mA，10 mA，100 mA五檔；
C.恒流源精度：各檔均≤±0.05%；
D.測(cè)量電流電流：可正反向測(cè)量。
兩探針測(cè)試探頭
A.探頭間距1.59㎜；
B.探針機(jī)械游率：±0.3%；
C.探針直徑0.8㎜；
D.探針合力6±1N，探針壓痕直徑：25 -50μm；
E.探針材料：碳化鎢，探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109歐姆。
測(cè)試架 晶體zui大可測(cè)長(zhǎng)度：≈3米，直徑4-15 mm；
探針頭沿晶體縱向移動(dòng)距離：300mm。
測(cè)量系統(tǒng) 對(duì)四探針、兩探針電阻率測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理并修正測(cè)量數(shù)據(jù)，特定數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式，顯示變化曲線。

兩探針電阻率測(cè)試儀  KDY-2  庫(kù)號(hào)：M406120   
兼容性：適用于通用電腦，支持Windows XP。
11 儀器電流 220V±10%，50HZ，功率消耗﹤500W 。